Холодная деформация

Холодная деформацияИсследования показали, что в хроме распределяются по границам зерна углерод, сера, фосфор и другие примеси. В молибдене обнаружена повышенная концентрация углерода и циркония на границах блоков мозаики и границах зерен. В вольфраме углерод располагается преимущественно по границам зерен. В литом ниобии углерод распределяется неравномерно в пределах зерен, концентрируясь на границах зерен.

При отжиге литого ниобия концентрация углерода на границах зерен еще более возрастает за счет снижения ее в объеме зерна. Холодная пластическая деформация ниобия приводит к повышению плотности дефектов кристаллического строения. Последующий отпуск вызывает сегрегацию углерода на двойниках и в других областях с повышенной плотностью дефектов кристаллического строения.

Судя по литературным данным, связь распределения примесей внедрения с неравномерным распределением дефектов кристаллического строения в микрообластях изучена недостаточно детально. Рассмотрим этот вопрос для случая, когда распределение примесей изучается методом авторадиографии.

С помощью этого метода определяется концентрация примесей в объеме, определимом длиной пробега излучения. Для углерода в ниобии эта величина составляет около Ю-3 см. Рассмотрение распределения дефектов кристаллического строения в зоне границ зерна с учетом усреднения их плотности по объемам, указанным выше, приводит к выводу, что оно достаточно удовлетворительно подчиняется закону нормального распределения где k — относительная плотность дефектов; х — расстояние от плоскости, проходящей через середину границы зерна; h — коэффициент нормального распределения. В связи с тем, что в процессе отпуска количество структурных дефектов, взаимодействующих с примесями, может уменьшаться, z. Зоны с повышенной плотностью дефектов кристаллического строения могут быть акцепторами примесей за счет того, что примеси могут оседать на дислокациях или образовывать комплексы с вакансиями.

С учетом акцепторного взаимодействия диффузия примесей может быть описана уравнением следующего вида: следующим фотометрированием.

Комментарии запрещены.